用于多样化生产领域的表面侦测和表面分析系统

复杂和低对比度缺陷的侦测和分类对所使用的系统提出了最高的要求。经过验证的 ELSIS 表面分析系统可优化生产线的生产过程,并保证完整的质量监控

功能

ELSIS 表面侦测系统由非常强大的 OL 60 行扫描相机提供支持。极其模块化的结构(每台相机都是一个独立的图像处理系统,通过以太网与 ELSIS 服务器以及系统中的其它相机进行通信)实现了极度紧凑的侦测线设计。

 

应用范围

表面分析系统用于薄膜生产领域、涂层生产线、无纺布和造纸行业、以及金属、卫生无纺布和薄膜的生产和加工。

 

应用

通常是在加工之后安装表面分析系统,以便进行质量控制。根据任务的不同,幅面表面在入射光或透射光下进行表面侦测。影响表面分析成功的决定性因素是幅面表面的扫描角度以及光源的布置。 

图例说明

1= 导向辊 | 2 = CCD 行扫描相机 | 3 = 光发射器 | M = 侦测范围 | A = 芯片平面和幅面平面之间的距离 | AB = 工作宽度 | NB = 额定宽度

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