基重测量系统 USM-500 A 阵列

产品描述
  • 涵盖整个材料宽度的非接触式基重和厚度测量,适用于薄膜和造纸行业 
  • 侦测范围:厚度 0-5000 µm 或基重 0-5000 g/m²
  • 超声波技术,无需额外的保护措施
  • 高测量精确度,分辨率高达 0.001 µm
  • 测量方法不受衬底高度波动的影响
技术规格

侦测范围

0-5000 gr/m²

分辨率

0.001 µm

精确度

< 测量值的 ±0.5%

距离

40 mm

穿透高度

20 mm

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  • 手册 ELTIM
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